| 产品特性：电测量 | 是否进口：否 | 产地：湖北 |
| 加工定制：是 | 品牌：光谷薄膜 | 型号：HCP-1W |
| 产品适用范围：材料/器件的IV特性测试失效分析 | 测量范围：定制 | 工作电压：220V |
在常温下用于晶片、晶圆、芯片等多种器件的精密电测量。可以实现基础测试、保护气氛电路测试、光电流分析、FA失效分析等测量和分析平台。
晶圆探针台HCP-1W技术参数：
样品台尺寸：150mm*150mm（6in.）；
探针数量：≤4；
移动精度：0.01mm；
探针XYZ行程：100mm*100mm*10mm；
样品台旋转角度：360°，精度±1；
样品台侧倾角度：±8°，精度±1；
显微镜放大倍数：15x~100x；
晶圆探针台HCP-1W产品特点：
产品功能：晶圆探针台在常温环境下用于晶片、晶圆、芯片等多种器件的精密电测量；
使用范围：帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能。
应用领域：提供材料/器件的IV/CV特性测试，LD/LED/PD的光强/波长测试，射频特性器件失效分析，芯片内部线路/电极/PAD测试等技术解决方案；
定制服务：定制样品台和测量方式；
自动控温：PID自整定连续多点控温。
晶圆探针台应用：
提供材料/器件的IV/CV特性测试；
LD/LED/PD的光强/波长测试；
射频特性器件失效分析；
芯片内部线路/电极/PAD测试：
